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德國科隆QNIX 1500涂層測厚儀使用說明書
篤摯儀器專業(yè)供應(yīng)德國進(jìn)口涂層測厚儀系列,包括尼克斯QNIX、菲希爾FISCHER 、EPK等品牌,篤摯儀器現(xiàn)貨代理的德國尼克斯QNIX 1500測量操作簡單,功能齊全,上海周邊支持上門送貨和現(xiàn)場指導(dǎo),保證所有產(chǎn)品均為國外原廠原裝,可提供出廠證書,代理證,校準(zhǔn)證書等。歡迎選購!
1、 緒論
QNIX 1500測厚儀是由德國科隆自動(dòng)檢測儀器公司制造的無損涂層厚度測量儀中的一種。該儀器具有應(yīng)用廣泛、測量范圍大(可達(dá)到5mm)、結(jié)構(gòu)堅(jiān)固等特點(diǎn)。QNIX 1500 測厚儀自動(dòng)開關(guān)機(jī),不需要校準(zhǔn),也不需要進(jìn)行復(fù)雜而昂貴的探頭更換。儀器的直角探頭設(shè)計(jì)可以對其他測厚儀無法測量的部位進(jìn)行測量,象較細(xì)的管的內(nèi)壁。
在使用儀器前,請仔細(xì)閱讀說明書,它可以幫您掌握儀器所提供的各種功能。您想了解其他測厚儀嗎?您對測厚儀還有疑問嗎?請務(wù)必與我們,我們的專家隨時(shí)竭誠為您服務(wù)。
2、 系統(tǒng)概述
QNIX 1500 測厚儀(僅限記憶型)可提供存儲(chǔ)功能和RS232電腦接口。它有兩個(gè)探頭Fe和Nfe。Fe探頭用來測量涂(鍍)在鋼、鐵上的非磁性涂層,如漆、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。Nfe探頭用來測量非磁性金屬上的所有非金屬涂層,如油漆、塑料、搪瓷、防腐層等。
QNIX 1500(記憶型)可存儲(chǔ)999個(gè)數(shù)據(jù)組,3900個(gè)測量數(shù)據(jù)。儀器還選配的程序軟件用計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,也可連接微型打印機(jī)同步打印結(jié)果。
3、 維護(hù)和維修
QNIX 1500測厚儀采用 良好的電子技術(shù),能滿足各種不同的測量要求。高精度、堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)和便于使用等特點(diǎn)使得該儀器具有廣泛的應(yīng)用。只要正確使用和維護(hù),它的壽命會(huì)很長。
儀器需要保持清潔,需要清潔時(shí)可用一塊柔軟的布擦洗,不要摔落,避免與液體、具有化學(xué)腐蝕性的物質(zhì)或氣體接觸。使用完畢,應(yīng)將儀器放回到儀器盒中保管。溫度的劇烈變化將影響測量結(jié)果,所以不要直接把儀器在強(qiáng)烈的陽光下暴曬。只有探頭保持清潔,才能獲得準(zhǔn)確的測量數(shù)據(jù)。所以要定期檢查探頭,清理探頭上殘留的污物如油漆等。儀器長時(shí)間不用時(shí),請取出電池保管。出現(xiàn)故障時(shí),請不要自行修理,我們的維修部門隨時(shí)竭誠為您服務(wù)。
4、 測量范圍
測量范圍為0--5000μm或0—200mil
不具備存儲(chǔ)功能的儀器,可同時(shí)拉動(dòng)兩邊的開關(guān)實(shí)現(xiàn)測量單位之間的轉(zhuǎn)換。即在開機(jī)狀態(tài)下,同時(shí)向前推動(dòng)兩邊的開關(guān)并停留一秒一上,單位發(fā)生轉(zhuǎn)換。
儀器在存儲(chǔ)狀態(tài)工作時(shí),可通過相應(yīng)的程序軟件實(shí)現(xiàn)從μm到mil之間的轉(zhuǎn)換。
5、 分辨率
儀器的分辨率和測量涂層的厚度有關(guān),具體如下:
測量范圍為0.0—99.9μm時(shí),分辨率為0.1μm
測量范圍為100—999μm時(shí),分辨率為1μm
測量范圍為1.0—5.0mm時(shí),分辨率為0.01mm
6、 溫度范圍
儀器自身帶有溫度補(bǔ)償,是測量數(shù)據(jù)更。使用溫度范圍:5℃--50℃
7、 電池的使用和更換
該儀器使用9V堿性干電池,電池安裝在儀器較寬的一端。當(dāng)液晶顯示“BAT”時(shí),表示電池已經(jīng)供電不足,建議更換新的電池。在更換新電池的同時(shí),內(nèi)部存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)仍被保留。
8、 儀器的調(diào)零
在使用儀器、在不同材料上工作、裝入新的電池或不斷操作儀器等情況下,儀器需要重新調(diào)零。
調(diào)零時(shí),QNIX 1500的探頭應(yīng)放在相應(yīng)的調(diào)零板上,也可以放在噴涂之前的工件上面,將探頭垂直按在調(diào)零板的表面,推動(dòng)兩側(cè)開關(guān)中的任何一個(gè),儀器發(fā)出“滴”的一聲響后松開開關(guān),把儀器抬起來,調(diào)零完畢。
儀器調(diào)零后回去測調(diào)零板應(yīng)該顯示0.0,如果顯示的數(shù)值比較大,超出儀器的誤差允許范圍,則調(diào)零失敗,請重復(fù)上面的調(diào)零步驟。
9、 測量
測量時(shí),把儀器的探頭垂直的壓在被測物體的表面。測量鋼、鐵基體時(shí),“Fe”標(biāo)簽向上;測量其他非磁性金屬基體時(shí),“NFe”標(biāo)簽向上。儀器被錯(cuò)誤放置時(shí),液晶顯示“ERR”。超過測量范圍或在非金屬基體上檢測時(shí),液晶顯示“InFi”.
儀器自動(dòng)開機(jī),10秒不用自動(dòng)關(guān)機(jī)。在測圓柱形表面時(shí),移動(dòng)紅色的護(hù)套,使其上的V型槽對準(zhǔn)被測件。
不要在磁鐵上進(jìn)行檢測,磁場將影響Fe探頭的測量數(shù)據(jù),強(qiáng)電磁場可能影響所有測量數(shù)據(jù)。
10、測量數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)(僅限QNIX 1500記憶型)
QNIX 1500記憶型可存儲(chǔ)999個(gè)數(shù)據(jù)組,3900個(gè)測量數(shù)據(jù),并且可以連接打印機(jī)、電腦等進(jìn)行數(shù)據(jù)的打印和處理。并且可顯示每個(gè)數(shù)據(jù)組所存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)中的 大值、 小值。
11、存儲(chǔ)狀態(tài)的設(shè)置
QNIX 1500記憶型在開機(jī)狀態(tài)下,同時(shí)推動(dòng)兩側(cè)的開關(guān)大約一秒鐘放開,液晶交替顯示“bloc”和“b001” ,此時(shí)儀器處于存儲(chǔ)狀態(tài)。隨后的測量數(shù)據(jù)都將存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)組1中。
在存儲(chǔ)狀態(tài)下進(jìn)行測量時(shí),儀器發(fā)出“吡吡”的兩聲響后,顯示測量數(shù)據(jù),大約一秒鐘后,液晶顯示此次測量序號,即液晶交替顯示著兩個(gè)數(shù)據(jù)。例如,液晶會(huì)交替顯示0.0.1.4(測量序號)和124μm(測量數(shù)據(jù))。同時(shí)推動(dòng)儀器兩側(cè)開關(guān)后馬上松手可退出存儲(chǔ)狀態(tài)。
儀器可存儲(chǔ)3900個(gè)數(shù)據(jù),當(dāng)存儲(chǔ)空間被使用完,液晶顯示“END”大約6秒鐘。如果在30秒內(nèi)不進(jìn)行操作,儀器將自動(dòng)關(guān)機(jī)。當(dāng)再次開機(jī)時(shí),儀器自動(dòng)回到一般工作狀態(tài)。
12、存儲(chǔ)狀態(tài)下的數(shù)據(jù)組設(shè)置
為了區(qū)分不同的工作任務(wù),在不同的數(shù)據(jù)組中存儲(chǔ)各自的測量數(shù)據(jù)是必要的。
建立新的數(shù)據(jù)組的方法是在存儲(chǔ)狀態(tài)下同時(shí)推動(dòng)兩側(cè)的開關(guān)直到液晶顯示有所變化時(shí)松手。此時(shí),隨著“吡”的一聲響,液晶交替顯示“bloc”和“b002”,
這樣新的數(shù)據(jù)組2就建立了。接下來所有測量數(shù)據(jù)都將存儲(chǔ)在該數(shù)據(jù)組中。儀器可建立999個(gè)數(shù)據(jù)組,當(dāng)建滿后液晶將顯示“END”。
13、平均值、 大值、 小值的顯示
儀器被開啟并處于存儲(chǔ)狀態(tài)時(shí),能顯示當(dāng)前數(shù)據(jù)組所存數(shù)據(jù)的平均值、 大值、 小值。推動(dòng)儀器兩端任何一個(gè)開關(guān)約一秒鐘后松手,液晶顯示平均值的符號“AE”和當(dāng)前數(shù)據(jù)組中已存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)個(gè)數(shù),隨后顯示平均值。例如“AE22”和“139μm”的交替顯示表示在當(dāng)前數(shù)據(jù)組中已經(jīng)存儲(chǔ)了22個(gè)測量數(shù)據(jù),平均值為139μm。
再次推動(dòng)兩側(cè)開關(guān)中的任何一個(gè),液晶將顯示所存數(shù)據(jù)的 大值,再次推動(dòng)開關(guān)將顯示 小值。當(dāng)前數(shù)據(jù)中未存儲(chǔ)數(shù)據(jù)時(shí),不會(huì)獲得任何統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),液晶交替顯示“AE0”和“NO”。推出此工作狀態(tài)時(shí),再次推動(dòng)兩側(cè)開關(guān)中的任何一個(gè)。
14、測量數(shù)據(jù)的刪除
15、儀器工作在存儲(chǔ)狀態(tài)時(shí),具有刪除正在被顯示或內(nèi)存中 后一個(gè)測量數(shù)據(jù)的功能。您可以推動(dòng)儀器兩側(cè)開關(guān)的任何一個(gè),并持續(xù)3秒,這樣 后一個(gè)測量數(shù)據(jù)就被刪除了。通過此方法可刪除所有測量數(shù)據(jù),不過太慢,建議通過計(jì)算機(jī)進(jìn)行該功能操作。當(dāng)數(shù)據(jù)組中的所有數(shù)據(jù)都被刪除時(shí),重復(fù)該操作可刪除該數(shù)據(jù)組。
16、內(nèi)存數(shù)據(jù)的處理
該儀器可通過RS232接口與計(jì)算機(jī)通訊,把存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)傳輸?shù)接?jì)算機(jī)上。也可連接打印機(jī)即時(shí)打印測量數(shù)據(jù)
17、可能顯示的信息
1、 Fe = 在鋼或者鐵上檢測
2、 Nfe = 在非磁性金屬上檢測
3、 ERR = 操作錯(cuò)誤
4、 InFi = 使用錯(cuò)誤基體,超出測量范圍
5、 BAT = 電池供電不足,需要更換新電池
6、 Bloc = 數(shù)據(jù)組號碼的顯示
7、 End = 數(shù)據(jù)組或內(nèi)存已被使用完
8、 Ae*** = 顯示數(shù)據(jù)組中的平均值
9、 No = 當(dāng)前數(shù)據(jù)組中尚未存儲(chǔ)數(shù)據(jù)
10、 П = 當(dāng)前數(shù)據(jù)組中所存數(shù)據(jù)的 大值
11、 Ц = 當(dāng)前數(shù)據(jù)組中所存數(shù)據(jù)的 小值
12、 d = 當(dāng)前數(shù)據(jù)組中所存數(shù)據(jù)的平均值
18、裝箱單
QNIX 1500主機(jī)一臺(tái),F(xiàn)e調(diào)零板和Nfe調(diào)零板各一塊,9V堿性干電池一節(jié),使用說明書一份。