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品牌 | Mahr/德國馬爾 | 產地類別 | 進口 |
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應用領域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
MarSurf PS1表面粗糙度儀長期現貨供應
MarSurf PS1表面粗糙度儀,適用于符合標準要求的表面粗糙度測量范圍,重量輕且便攜式測量解決方案。它不僅測量峰到谷的高度,還可以給出樣品區域遇到的峰的頻率。 Elcometer還提供各種手寫筆拾音器和配件,以滿足您的所有檢查需求。
MarSurf PS1是符合標準要求表面粗糙度測量范圍的輕便便攜式測量解決方案。 該單元還適用于在廣泛的一般工業應用中評估表面粗糙度條件; 特別是樣品太大而無法帶到實驗室。 表面粗糙度的測量用Ra,Rz或Rt表示。 這些值包括峰 - 谷分布測量結合對樣本區域內峰值頻率的評估。
•多語言顯示
•集成校準標準
篤摯儀器(上海)有限公司是德國馬爾mahr(中國區)供應中心(即德國馬爾粗糙度儀經銷商,),是中國的光學儀器、無損檢測、色譜與光譜耗材專業供應商,常年提供*的德國馬爾粗糙度儀mahr,客戶遍及。作為mahr馬爾粗糙度儀代理商我們備有大量的現貨和具有競爭力的價格。
MarSurf PS1表面粗糙度測試儀由一個手寫筆組成,該筆筆在表面上機械地繪制,在預定義的樣本長度上記錄表面粗糙度的“圖像”。測量技術提供了許多測量參數,包括:
Rmax:采樣長度之間zui高峰和zui低谷之間的zui大距離。
Ra:采樣長度上的平均表面粗糙度。
Rt:任何給定采樣長度內zui高峰和zui低谷之間的距離。
Rz:多個采樣長度之間zui高峰和zui低谷之間的平均距離。
一般規格:
測量單位:公制,英寸
測量原理:觸筆方法
觸控筆提供(其他觸控筆可選):感應式滑蓋式觸筆拾取,2μm(80μin)觸針筆尖,測量力約。 0.7 mN
參數:24(公差極限):Ra,Rq,Rz等于至R y(JIS),Rz(JIS),Rmax,Rp,Rp(ASME),Rpm(ASME),Rpk,Rk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo,Rt,R3z,RPc,Rmr equiv。至Tp(JIS,ASME),RSm,R,Ar,Rx
測量范圍:350μm,180μm,90μm(自動變化)
配置文件分辨率:32nm,16nm,8nm(自動更改)
過濾器:根據DIN EN ISO 11562的相位校正型材過濾器(高斯過濾器),符合DIN EN ISO 13565-1的特殊過濾器,符合DIN EN ISO 3274標準的過濾器(可禁用)
截止:0.25mm,0.8mm,2.5mm;自動(0.010“,0.030”,0.100“)
行程長度:1.75mm,5.6mm,17.5mm;自動(0.069“,0.22”,0.69“)
移動長度(根據MOTIF):1mm,2mm,4mm,8mm,12mm,16mm(0.040“,0.080”,0.160“,0.320”,0.480“,0.640”)
短截止值:可選擇
評價長度:1.25mm,4.0mm,12.50mm(0.050“,0.15”,0.50“)
采樣長度的數字n:可選:1到5
校準功能:動態
內存容量:zui大15個配置文件,zui多20,000結果
其他功能:阻止設置(代碼保護),日期/時間
電池:鋰離子電池
接口:USB,Mar Connect(RS232)
尺寸:140mm×50mm×70mm(5.51“×1.97”×2.76“)
可以按照以下使用:
ASTM D7127,ASME B46,DIN 4768,EN 10049,ISO 4287,ISO 4287/1,JIS B 0601