Perthometer M2粗糙度儀通用標準及輔助工具

• 更新時間：2017-04-11
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Perthometer M2粗糙度儀通用標準及輔助工具
該儀器是通用標準儀器。高移動性，高性能表面粗糙度單位，該儀器的操作基于經過驗證的功能目錄，可以非常容易地選擇測量條件，語言和記錄內容等儀器設置。 因此，Perthometer M2提供了Z大的舒適性和靈活性。

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Perthometer M2粗糙度儀通用標準及輔助工具

該儀器是通用標準儀器。高移動性，高性能表面粗糙度單位，該儀器的操作基于經過驗證的功能目錄，可以非常容易地選擇測量條件，語言和記錄內容等儀器設置。 因此，Perthometer M2提供了zui大的舒適性和靈活性。

我們的應用有助于在M1或M2系列中使用評估儀器。 校準或儲存站包含在交貨范圍內。 可以使用校準標準，如果需要，可使用校準證書。

→特殊設計允許測量儀器的，輕松的定位

→即使沒有專業的計量知識，易于使用

→用于保護驅動單元免受可能破壞測量的環境影響的設備

→拾取保護，即檢測僅在測量期間延長

→表面 保護材料確保測量不會在工件上留下痕跡
 

●測量范圍可達150μm（6000μin）
●單位μm/μin可選
●標準：可選擇SIN / ISO / JIS和CNOMO（Motif）
●根據DIN EN ISO 4288 / ASME B461的運行長度：1.75mm，5.6mm，17.5mm（.07in，.22in，.7in）;根據EN ISO 12085：1mm，2mm，4mm，8mm，12mm，16mm
●采樣長度可選擇1到5
●自動選擇符合標準的過濾器和運行長度
●根據DIN EN ISO 11562的相位校正型材過濾器
●截止0.25mm / 0.80mm / 2.50mm（.010in / .032in。/ 100in）
●可以選擇短切斷
根據DIN / ISO / SEP的參數：Ra，Rz，Rmax，Rp，Rq，Rt，R3z，Rk，Rvk，Rpk，Mr1，Mr2，Mr，Sm，RPc，按照JIS：Ra，Rz，Ry， Sm，S，tp;主題參數：R，Rx，Ar，W，CR，CF，CL（三區測量）
●顯示和測量記錄中的容差監控
●自動或可調縮放
●印刷R型材（ISO / JIS），P型材（MOTIF），材料比例曲線，測量記錄
●測量的輸出日期和/或時間
●集成內存，zui多可達200??次測量
●動態拾音校準
●阻止儀器設置，防止意外修改以及密碼保護的可能性

堅固的制造環境需要快速簡便的粗糙度測量。 車間對測量儀器特別苛刻。 Mahr的應用輔助工具是*的解決方案

輔助工具：

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