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QNix4200磁性基體測厚儀

  • 更新時間：2018-05-29
  • 瀏覽次數：939

QNix4200磁性基體測厚儀
鋼鐵基材: 用于4200
測量范圍: 0-3000um
測量精度: +/- 1um或+/- 3%讀數）
Z小測量面積: 10x10mm
Z小曲率: 凸半徑 5mm
凹半徑 25mm
Z小基材厚度:0.2mm

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品牌Qnix/德國尼克斯價格區間面議

QNix4200磁性基體測厚儀

 

Coating thickness measuring systems
by Automation Dr. Nix

QNix® 4200 –
for measurements on Fe substrate

QNix® 4200 measures on Fe substrate of up to 5,000 µm and offers all advantages of the QNix® 4500.

 

 測量范圍集成探頭電纜探頭
QNix® 4500Fe 0 - 3.000 µm
NFe 0 - 3.000 µm		??
QNix® 4500Fe 0 - 5.000 µm
NFe 0 - 3.000 µm		??
QNix® 4200Fe 0 - 5.000 µm??
QNix® 4200Fe 0 - 3.000 µm??

  • 塑料箱運輸和儲存

QNix® 4500 - 帶集成探頭QNix® 4500 - 帶電纜探頭QNix® 4200 - 帶集成探頭QNix® 4200 - 帶電纜探頭
 

QNix4200技術參數

磁性基體(Fe模式)

可以

非磁性基體(NFe模式)

不可以

測量范圍

Fe:0-3000um

顯示精度

0.1um

精度

0-50um:≤±1um

50-1000um:≤±1.5%讀數

1000-3000um≤±3%讀數

zui小接觸面

10×10mm/QNix4200

zui小曲率半徑

凸面：3mm；凹面：25mm

zui小基體厚度

Fe:0.2mm/NFe:0.05mm

溫度補償范圍

0-60℃

顯示

LCD液晶(帶背光)

探頭

紅寶石固定式

電源

2×1.5V干電池

尺寸

100×60×27mm

重量

110g

 

鋼鐵基材: 用于4200
測量范圍: 0-3000um
測量精度: +/- 1um或+/- 3%讀數)
zui小測量面積: 10x10mm
zui小曲率: 凸半徑 5mm
凹半徑 25mm
zui小基材厚度:0.2mm
溫度范圍: 0-60度
顯示: LCD
供電形式: 2個1.5V電池
體積: 100X60X27mm
重量: 約110克

 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

 

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