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GE檢測科技-DM5E測厚儀

更新時間：2017-08-03
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GE檢測科技-DM5E測厚儀
GE的檢測技術(shù)業(yè)務(wù)（GE測量與控制部分）與您合作，滿足您的需求非破壞性測試需求。我們提供全套非破壞性測試（NDT）解決方案，包括線照相術(shù)，計算機(jī)斷層掃描，遠(yuǎn)程目視檢查，超聲波，電磁，硬度測試和計量學(xué)。結(jié)合我們的Rhythm®軟件平臺，GE是您的Z終生產(chǎn)力提供商解決方案，提供準(zhǔn)確可靠的檢查數(shù)據(jù)，

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GE檢測科技-DM5E測厚儀

GE的檢測技術(shù)業(yè)務(wù)（GE測量與控制部分）與您合作，滿足您的需求非破壞性測試需求。我們提供全套非破壞性測試（NDT）解決方案，包括射線照相術(shù)，計算機(jī)斷層掃描，遠(yuǎn)程目視檢查，超聲波，電磁，硬度測試和計量學(xué)。結(jié)合我們的Rhythm®軟件平臺，GE是您的zui終生產(chǎn)力提供商解決方案，提供準(zhǔn)確可靠的檢查數(shù)據(jù)，可與您的同事無縫共享和世界各地的客戶。數(shù)字化，軟件開發(fā)和成像能力的快速發(fā)展繼續(xù)提供在非破壞性測試和檢驗領(lǐng)域的改進(jìn)。通常來自醫(yī)療社區(qū)，2D和3D成像可以解決或趨勢在組件生命延伸領(lǐng)域的復(fù)雜問題，適應(yīng)服務(wù)，設(shè)計優(yōu)化，質(zhì)量控制或根本原因故障分析。高分辨率成像已經(jīng)變得實用，性價比高，可以節(jié)省關(guān)鍵時間，適用于現(xiàn)實應(yīng)用。

GE的檢測技術(shù)是的提供良好的非破壞性成像技術(shù)電磁，γ射線和X射線，超聲波和可見光譜。我們有很大的深度廣泛的專業(yè)知識可以應(yīng)用于您的需求。
我們的應(yīng)用涵蓋廣泛的行業(yè)：
•航空航天
•金屬和鑄件
•油氣
•發(fā)電
•運(yùn)輸

DM5E測厚儀： DM5E集成了DM5E Basic的所有功能，但也兼容提供DUAL MULTI操作模式。這已被使用以前的GE腐蝕測厚儀已被證明是無價的測量金屬通過涂層的厚度。沒有必要在測量點移除涂層，節(jié)省時間和錢。用戶可以在現(xiàn)場從DM5E Basic升級到DM5E。
涂層厚度測量 DM5E和DM5E DL都提供雙重測量。幾乎所有的部件和結(jié)構(gòu)受到厚度的影響測量會有一些保護(hù)涂層。這樣包括涂料在內(nèi)的涂料對厚度有重大誤差使用常規(guī)時測量下面的金屬墻壁方法。此外，涂層的去除及其后續(xù)重新應(yīng)用，涉及相當(dāng)大的成本和時間。與領(lǐng)域經(jīng)過驗證的雙重功能，無需去除任何保護(hù)層。只需要選擇雙重多模式，放置探針就位并進(jìn)行測量。
用戶友好的操作界面所有版本的DM5E都具有相同的用戶友好型操作員鍵盤界面。這有一個中央模式鍵，一個校準(zhǔn)/開/關(guān) 鍵，兩個功能箭頭鍵激活并設(shè)置功能控制和四個用于調(diào)整參數(shù)值的箭頭鍵瀏覽直觀的單級菜單。鍵盤允許訪問所有校準(zhǔn)，設(shè)置和測量顯示儀器的模式。具有DL版本的文件顯示模式允許用戶在文件中創(chuàng)和存儲厚度讀數(shù)。所有校準(zhǔn)都是菜單驅(qū)動的，操作員可以通過每一步。有一個內(nèi)置的校準(zhǔn)提示，可以是設(shè)置提醒用戶在數(shù)量后進(jìn)行校準(zhǔn)測量或給定時間段后。
良好的非破壞性成像 GE檢測技術(shù)致力于為石油天然氣，電力，航空航天提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和服務(wù)和運(yùn)輸業(yè)。我們的檢測解決方案包括良好的成像功能和強(qiáng)大的軟件工具，提供高品質(zhì)，數(shù)據(jù)豐富的圖像，使客戶可以做出更快，更明智的決策來保護(hù)資產(chǎn)健康，有助于確保安全，質(zhì)量和提高生產(chǎn)力。

篤摯儀器（上海）有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區(qū)的合作伙伴，憑借種類齊全的產(chǎn)品資源和服務(wù)，涵蓋光學(xué)儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、量具量儀等各類檢測設(shè)備，努力為客戶解決日新月異的測量分析技術(shù)挑戰(zhàn)，共同提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動企業(yè)實現(xiàn)既定目標(biāo)。