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x射線鍍層測厚儀_xdv-µ-pcb FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ測量系統擁有良好的多毛細孔X射線聚焦裝置,既能有效地縮小測量點的面積,又能大幅加強射線的強度。儀器配備了大面積硅漂移探測器,特別適用于在小工件上測量非常薄鍍層的厚度或者進行痕量分析。
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模塊式多功能測厚儀FISCHERSCOPE MMS PC2 如在印制線路板生產中的鍍層測厚領域,可以在FISCHERSCOPE MMS PC2主機中安裝模塊BETASCOPE,SIGMASCOPE/PHASCOP, SR-SCOPE 和PERMASCOPE。這樣的儀器配置可以完成以下功能和應用
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